材料分析检测

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场发射扫描电镜

主要参数:

二次电子分辨率:1nm

最大放大倍数:100万倍

功能描述:该设备适用于物理、材料、半导体、超导体、化学、高分子、地质矿物、生物、医学等领域的微观研究和分析。

电感耦合等离子体质谱仪

主要参数:

检出限In≤0.1 ppt

分析范围1-285 amu

功能描述:适用于各种样品的痕量、超痕量元素分析测试,同时能够进行同位素分析、元素形态分析。


X射线衍射分析仪

主要参数:

角度重现性:0.0001°

能量分辨率:8.6%

功能描述:可进行粉末样品的定性、定量分析、结晶度测量以及介孔材料的小角衍射分析、残余应力分析等。广泛应用于合金、粉末冶金材料、半导体材料、陶瓷材料、水泥、玻璃、矿物、催化剂、碳纤维等材料的研究。

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